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杰星科技:掃描探針金相試樣切割機即表面分析儀器有什么優勢?

Scanning Probe Microscope即掃描探針顯微鏡,也可以稱是表面分析儀器。是綜合運用光電子技術、激光技術、等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品 。

當然除了掃描探針顯微鏡,還有原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡MFM等等一系列的高科技產品。

在此著重說明掃描探針顯微鏡的優點與缺點:

1.它的最大優點便是可以成三維的樣品表面圖像,還可對材料的各種不同性質進行研究。

2.極高的分辨率

3.使用環境寬松

4.應用領域是寬廣

5.價格相對于電子顯微鏡等大型儀器來講是較低的

然事物不都是完美的,它也有缺陷的地方

1.掃描速度受到限制, 測效率較其他顯微技術低

2.不可以像電子顯微鏡的大范圍連續變焦

3.定位和尋找特征結構比較困難

4.對樣品表面的粗糙度有較高的要求

5.探針的幾何寬度、曲率半徑及各向異性會引起成像的失真

以上就是杰星科技給您帶來的關于探針顯微鏡的內容,如有更多問題可咨詢我們的客服,想要更多內容請關注我們的網站~



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